B1500A Agilent Semiconductor Device Parameter Analyser / Semiconductor Characterization System Mainframe

Prehľad a funkcie

Keysight B1500A (Agilent) Semiconductor Device Analyzer je modulárny prístroj s desaťslotovou konfiguráciou, ktorý podporuje IV aj CV merania a tiež rýchle vysokonapäťové pulzovanie. Jeho známe používateľské rozhranie Microsoft ® Windows ® podporuje softvér Agilent EasyEXPERT, ktorý poskytuje nový, intuitívnejší prístup k charakterizácii zariadenia orientovaný na úlohy. Vďaka svojim schopnostiam extrémne nízkeho prúdu, nízkeho napätia a integrovaného merania kapacity môže byť Keysight B1500A (Agilent) použitý pre širokú škálu potrieb charakterizácie polovodičových zariadení (IC-CAP podporuje B1500A). Je to tiež vynikajúce riešenie pre charakterizáciu energeticky nezávislých pamäťových buniek a vysokorýchlostnú charakterizáciu zariadení (vrátane pokročilého merania NBTI).

 

Funkcie a výhody Keysight B1500A (Agilent) zahŕňajú:

● Vynikajúci výkon IV merania: {{0}},1 fA / 0,5 µV rozlíšenie merania

● Funkcie merania zahŕňajú jedno a viackanálové rozmietanie, časové vzorkovanie, rozmietanie zoznamu, kvázistatické CV (pomocou SMU), priame ovládanie a grafické používateľské rozhranie generovania ľubovoľného lineárneho tvaru vlny (ALWG) pre HV-SPGU.

● Voliteľný integrovaný kapacitný modul podporuje CV merania až do 5 MHz

● Voliteľné riešenia prepínania CV-IV na báze polohovača dostupné s rozlíšením merania napätia 0,5 µV a schopnosťou rozlíšenia merania prúdu 10 fa, 1 fA alebo 0,1 fA

● Jednoduchá automatizácia testovania so vstavanými poloautomatickými ovládačmi sondy wafer a sekvencovaním testov bez programovania prostredníctvom režimu rýchleho testu

● Voliteľná jednotka vysokonapäťového polovodičového generátora impulzov (HV-SPGU) dostupná s programovateľnou šírkou impulzu 10 ns a výstupom plus /- 40 V (80 V od špičky po špičku).

● Voliteľný generátor priebehu/rýchla meracia jednotka (WGFMU) dostupný s ALWG a funkciami rýchleho merania prúdu alebo napätia.

● 10 ns pulzné IV riešenie je k dispozícii na charakterizáciu vysokok hradlového dielektrika a SOI (silicon-on-insulator) tranzistorov.

● K dispozícii je režim klasického testu, ktorý poskytuje vzhľad, dojem a terminológiu rozhrania 4155/4156 a zároveň zlepšuje interakciu používateľa plným využitím funkcií GUI systému Microsoft ® Windows ®

Kľúčové špecifikácie analyzátora polovodičových zariadení Keysight B1500A (Agilent) zahŕňajú:

● Všeobecné funkcie

o Prístroj na báze PC s OS Windows® XP Professional

o Jednoskriňové riešenie pre meranie prúdu-napätia (IV), kapacity a napätia (CV), generovanie impulzov, rýchle IV a meranie v časovej oblasti.

o Desať modulových slotov pre jednotky zdrojového monitora (SMU) a iné typy modulov (MFCMU, HV-SPGU a WGFMU) *

o Offline analýza údajov a vývoj aplikačných testov prostredníctvom softvéru Desktop EasyEXPERT

● Možnosti merania

o Podporuje meranie prúdového napätia (IV) do 0.1fA a 0.5µV

o Podporuje meranie kvázistatického aj strednofrekvenčného kapacitného napätia (CV) ]

o Podporuje presné rýchle IV a meranie v časovej oblasti pre širokú škálu aplikácií, ako je pulzné IV, NBTI a RTS meranie.

o Podporuje generovanie vysokonapäťových impulzov (až do ±40 V) na testovanie vysokého výkonu a pamäťových zariadení.

 

Sprievodca výberom modulu:

Hlavný modul	Sloty	Špecifikácia
B1510A HPSMU	2	Do 200V, sila 1A. prúdové rozlíšenie 10fA
B1511A MPSMU	1	Až 100V, sila 100mA, prúdové rozlíšenie 10fA
B1517A HRSMU	1	Až 100V, sila 100mA, prúdové rozlíšenie 1fA
E5288A ASU	NA	Až 100V, sila 100mA, prúdové rozlíšenie 100aA
B1520A MFCMU	1	1kHz až 5MHz, až 100V DC predpätie s SMU
B1525A HV-SPGU	1	Minimálna šírka impulzu 12,5 ns, čas prechodu 10 ns, až 40 V s 3 úrovňami pu
B1530A WGFMU	1	Minimálna šírka impulzu 100 ns, špičkový výstup 10 V, vzorkovacia rýchlosť merania prúdu alebo napätia 5 ns

 

 

Populárne Tagy: b1500a analyzátor parametrov polovodičových zariadení agilent / sálový počítač systému na charakterizáciu polovodičov, Čína výrobcovia sálových počítačov b1500a analyzátor parametrov polovodičových zariadení / systém na charakterizáciu polovodičov, poloduktorový šum, Semiconductor parameter Senzory magnetického poľa, hysteréza polovodiča, polovodičový parameter nelinearita